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Patent Classification（クラシフィケーション） | LexisNexis。Development of a Wafer Defect Pattern Classifier Using Polar。Development of a Wafer Defect Pattern Classifier Using Polar。パターン識別　Patten Classfication Second EditionRicard O.Duda Peter E.Hart Daivid G.Stork 監訳：尾上守夫大型本: 659ページ言語: 日本語ISBN-10: 4915851249発売日： 2001/7/3John Wiley & Sons 新技術コミュニケーション2001年の発売だたんですね。感動します。定価10,000円とあります。値引き交渉は致しません。ご了承下さい。ご検討の程、よろしくお願いします。。MOS Excel 365&2019 対策テキスト&問題集・CD-ROM付き。コンピュータ・IT Art of Computer Programming1-4A BoxedSet。リバースエンジニアリングツールGhidra実践ガイド。はじめて読む8086。Fundamentals of Data Structures　洋書　古書。松本まりか　DVD・写真集4点セット